必一体育:半导体芯片三槽式冷热冲击试验箱

　　半导体芯片三槽式冷热冲击试验箱用于测试材料结构或复合材料，在瞬间经*温以及极低温的连续环境下所能忍受的程度，最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害；高低温循环可达1000次，不结霜，温度恢复时间小于5分钟，转换时间小于10秒，三箱式结构，样品不需移动，易于测试线缆连接，可自由切换两温和三温模式，流体力学仿真精密计算，变频技术与产品工艺制造技术有效降低能耗。

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